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    LT-2型单晶少子寿命测试仪

    型号:LT-2型 品牌:广州四探针

    简要描述:

    用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。

    免费咨询:0571-86775300

    发邮件给我们:15158113977@163.com

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    LT-2
     
    型单晶少子寿命测试仪


     

     

     
       LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
     
       本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

     

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